Análise comparativa entre espectrômetro portátil e espectrofotômetro com esfera integradora para medição da refletância solar de telhas

Resumo

Conhecer as propriedades termofísicas das superfícies do envelope construtivo, como a refletância solar, é primordial para a adoção de estratégias passivas de melhoria do desempenho térmico das edificações. Contudo, ainda é escassa a divulgação desses dados por fabricantes de revestimentos nacionais, devido à dificuldade de acesso aos equipamentos e necessidade de técnicos especializados para seu manuseio. Buscando auxiliar o acesso a esses dados, este trabalho apresenta a avaliação do espectrômetro portátil ALTA II como alternativa aos métodos normatizados de medição da refletância solar para telhas cerâmicas e de fibrocimento. Para isso, foram comparados os valores de refletância solar obtidos a partir de um espectrofotômetro com esfera integradora e aqueles medidos com o ALTA II para 39 telhas. Análises de desempenho do ALTA II a partir de variações no método de medição (com e sem aparato escuro em ambiente interno e sem aparato em ambiente externo) foram inconclusivos para determinar a influência da ausência de um aparato para a medição nas amostras selecionadas. Apesar da incerteza observada, os resultados demonstraram forte correlação entre os dados medidos no ALTA II com aparato e com o espectrofotômetro, indicando o espectrômetro como uma alternativa para a medição de refletância solar das amostras.