2024-03-28T13:41:54Z
https://seer.ufrgs.br/index.php/rita/oai
oai:seer.ufrgs.br:article/36851
2014-05-12T13:24:09Z
rita:SAST+2012
driver
"140512 2014 eng "
2175-2745
0103-4308
dc
Teste de Linha de Produto de Software Baseado em Mutação de Variabilidades
Quináia, Marcos Antonio
http://www.unicentro.br
Ferreira, Johnny Maikeo
Vergilio, Silvia Regina
O OVM (Orthogonal Variability Model) tem sido adotado para definir e documentar as variabilidades de uma linha de produto de software (LPS), e para derivar produtos para teste. Dado o enorme espaço de variabilidades da maioria das aplicações, critérios de teste baseados em combinações de variabilidades, ou no teste de caminhos básicos, são geralmente utilizados para selecionar um subconjunto de produtos, os mais representativos. Estes critérios, entretanto, não consideram defeitos que podem estar presentes no OVM. Para aumentar a confiança de que os produtos da LPS satisfazem a especificação, neste trabalho é apresentada uma abordagem baseada em teste de mutação. Operadores de mutação são introduzidos e avaliados em dois estudos de caso. Os resultados mostram que outros tipos de defeitos são revelados em comparação com os critérios existentes.
Instituto de Informática - Universidade Federal do Rio Grande do Sul
2014-05-12 10:24:09
application/pdf
https://seer.ufrgs.br/index.php/rita/article/view/VIRGILIO-RITA-VOL21-NR1
Revista de Informática Teórica e Aplicada; Vol. 21 No. 1 (2014)
por
Copyright (c) 2018