Brusamarello, Lucas, et al. “Técnicas probabilísticas Para análise De Yield Em nível elétrico Usando propagação De Erros E Derivadas numéricas”. Revista De Informática Teórica E Aplicada, vol. 14, no. 2, Dec. 2007, pp. 69-89, doi:10.22456/2175-2745.5691.