Brusamarello, L., da Silva, R., Wirth, G. I. and Reis, R. da L. (2007) “Técnicas probabilísticas para análise de yield em nível elétrico usando propagação de erros e derivadas numéricas”, Revista de Informática Teórica e Aplicada, 14(2), pp. 69–89. doi: 10.22456/2175-2745.5691.