Brusamarello, Lucas, Roberto da Silva, Gilson I. Wirth, and Ricardo da Luz Reis. 2007. “Técnicas probabilísticas Para análise De Yield Em nível elétrico Usando propagação De Erros E Derivadas numéricas”. Revista De Informática Teórica E Aplicada 14 (2):69-89. https://doi.org/10.22456/2175-2745.5691.