BRUSAMARELLO, L.; DA SILVA, R.; WIRTH, G. I.; REIS, R. da L. Técnicas probabilísticas para análise de yield em nível elétrico usando propagação de erros e derivadas numéricas. Revista de Informática Teórica e Aplicada, [S. l.], v. 14, n. 2, p. 69–89, 2007. DOI: 10.22456/2175-2745.5691. Disponível em: https://seer.ufrgs.br/index.php/rita/article/view/rita_v14_n2_p69-89. Acesso em: 28 mar. 2024.