Brusamarello, L., da Silva, R., Wirth, G. I., & Reis, R. da L. (2007). Técnicas probabilísticas para análise de yield em nível elétrico usando propagação de erros e derivadas numéricas. Revista De Informática Teórica E Aplicada, 14(2), 69–89. https://doi.org/10.22456/2175-2745.5691