Brusamarello, L. et al. 2007. Técnicas probabilísticas para análise de yield em nível elétrico usando propagação de erros e derivadas numéricas. Revista de Informática Teórica e Aplicada. 14, 2 (Dec. 2007), 69–89. DOI:https://doi.org/10.22456/2175-2745.5691.