[1]
DUARTE, L.D.C., JUCHEM, P.L., PULZ, G.M., DE BRUM, T.M.M., CHODUR, N., LICCARDO, A., FISCHER, A.C. e ACAUAN, R.B. 2003. Aplicações de Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV) e Sistema de Energia Dispersiva (EDS) no Estudo de Gemas: exemplos brasileiros. Pesquisas em Geociências. 30, 2 (dez. 2003), 3–15. DOI:https://doi.org/10.22456/1807-9806.19585.